遮陽(yáng)半球(qiú)輻射率檢(jiǎn)測儀(yí)
| 產品型(xíng)號： | GM800 |
| 更(gēng)新日(rì)期(qī)： | 2024-11-29 |
| 訪問(wèn)次(cì)數(shù)： | 3125 |
遮陽(yáng)半(bàn)球(qiú)輻射率檢測儀具有小巧便攜，測量速(sù)度快(kuài)，自動(dòng)測量的優(yōu)點。特別(bié)適合(hé)對已安(ān)裝(zhuāng)建(jiàn)築(zhù)玻璃，門(mén)窗(chuāng)玻璃(lí)進行現(xiàn)場無損測量。
詳(xiáng)細(xì)資料：
| 品(pǐn)牌 | TIMESUN |
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遮陽半球輻(fú)射率檢(jiǎn)測儀簡介(jiè)：
本儀(yí)器(qì)用於直(zhí)接測(cè)量(liáng)中空(kōng)玻(bō)璃中Low-E膜麵(miàn)輻(fú)射(shè)率，同時測(cè)量(liáng)中空(kōng)玻璃的(dí)玻璃及中空腔(qiāng)厚度，並識(shí)別(bié)Low-E膜麵的位置。具(jù)有小巧(qiǎo)便(biàn)攜(xié)，測量(liáng)速(sù)度(dù)快(kuài)，自動(dòng)測量(liáng)的(dí)優點。特別適合對(duì)已安(ān)裝建(jiàn)築玻璃，門窗(chuāng)玻璃(lí)進行現場無(wú)損測量。
GM800半球輻射(shè)率(shuài)測(cè)試儀(yí)功能(néng)：無損(sǔn)測量(liáng)中空(kōng)玻(bō)璃中(zhōng)Low-E膜麵(miàn)的(dí)輻(fú)射率(shuài)；
測量(liáng)中(zhōng)空(kōng)玻璃(lí)，中空腔(qiāng)厚(hòu)度(dù)及總厚度(dù)；
識別中空(kōng)玻璃Low-E膜麵(miàn)的位(wèi)置(zhì)。
半(bàn)球輻(fú)射率亦稱為(wéi)比(bǐ)輻(fú)射(shè)率，是物體單元(yuán)外表(biǎo)麵向(xiàng)整(zhěng)個半(bàn)球(qiú)空間發射的(dí)一切(qiē)波(bō)長(cháng)的(dí)總輻(fú)射，它的(dí)總輻射(shè)能與(yǔ)同(tóng)溫度下黑(hēi)體(tǐ)輻射能(néng)之比。
斯蒂芬-玻(bō)耳(ěr)茲曼定(dìng)律描繪(huì)的是物(wù)體(tǐ)單元外(wài)表(biǎo)麵向整個半球(qiú)空間發射(shè)的一切(qiē)波長的總輻射(shè)，它(tā)的(dí)總輻射能與(yǔ)同(tóng)溫(wēn)度下黑體(tǐ)輻(fú)射(shè)能(néng)之(zhī)比稱(chēng)為半球輻射(shè)率，亦(yì)稱為比輻(fú)射(shè)率(shuài)。半球發(fā)射(shè)率ε與法向(xiàng)發射(shè)率(shuài)εn的(dí)關係為:ε=Mεn，M為(wéi)修(xiū)正係(xì)數。
LOW-E玻璃的半球輻射率一(yī)般是(shì)0.45
low-e玻璃是鍍膜(mó)玻(bō)璃(lí)地(dì)一種。 Low-E玻璃(lí)又稱(chēng)低(dī)輻射(shè)玻(bō)璃(lí)，是(shì)在玻璃(lí)外(wài)表(biǎo)鍍上多層金屬(shǔ)或其他化(huà)合物(wù)構成地膜係(xì)產物(wù)。其(qí)鍍膜層具有(yǒu)對(duì)可(kě)見光高(gāo)透過(guò)及(jí)對(duì)中遠紅外綫高反射地特(tè)征. 一般鍍(dù)膜玻璃是在(zài)玻璃(lí)外表(biǎo)塗鍍(dù)一層(céng)或(huò)多層金屬，合(hé)金或(huò)金屬(shǔ)化(huà)合物(wù)薄膜(mó)，以(yǐ)改動玻(bō)璃地光學性能，又稱熱反射玻璃。鍍(dù)膜玻璃中(zhōng)應用最多(duō)地(dì)是熱反射玻璃和低輻(fú)射玻(bō)璃。根本上(shàng)采用(yòng)真空磁控濺射法(離(lí)綫)和化(huà)學氣(qì)相堆積(jī)法(fǎ)(在綫)兩種(zhǒng)消費辦法(fǎ)。
遮陽(yáng)半球(qiú)輻(fú)射(shè)率(shuài)檢測儀注意事項(xiàng)：
1.在使(shǐ)用儀(yí)器(qì)過程(chéng)中需要確(què)保(bǎo)輻射檢測儀(yí)的探(tàn)測(cè)口(kǒu)與需要測(cè)測量(liáng)的放射(shè)源(yuán)之間(jiān)不存在任(rèn)何阻(zǔ)擋(dǎng)。
2.當使(shǐ)用(yòng)輻(fú)射(shè)檢(jiǎn)測儀在對反(fǎn)射源進行測量(liáng)的(dí)過程(chéng)中(zhōng)不可(kě)以將測量窗口麵向太(tài)陽，否(fǒu)則對讀(dú)數可能會造(zào)成一(yī)定的影響。
3.探(tàn)頭在(zài)裝在輻射(shè)檢測(cè)儀(yí)背麵網(wǎng)狀窗內(nèi)，測量過程中(zhōng)網狀窗(chuāng)需(xū)要與被測物(wù)對準。
4.當(dāng)方式開(kāi)關(guān)位於(yú)mR/hr，μSV/hr或CPMCPS狀(zhuàng)態時，儀器所顯(xiǎn)示(shì)的(dí)讀(dú)數會每(měi)三秒鐘顯示一(yī)次(cì)，可能(néng)會導致(zhì)在(zài)低(dī)計數率情(qíng)況(kuàng)下(xià)顯示(shì)出的(dí)輻(fú)射(shè)水平(píng)會(huì)存在明顯(xiǎn)的波(bō)動(dòng)。
